ازمایشگاه های شیمی

خلاصه
يك طيف الكترون اوژه اطلاعات متنوعي در مورد سطح لايه، نوع عنصر و غلظت نسبي آن به دست مي‌‌دهد. اما اولين اطلاعاتي كه مي‌‌توان به دست آورد، نوع عنصر و غلظت نسبي آن عنصر است. طيف‌‌سنجي الکتروني اوژه، براي شناسايي شيميايي سطح نمونه‌‌اي با ترکيبات مختلف، کاربرد دارد و به دليل محدوديت نفوذ الكترو‌نهاي اوژه در عمق، يك روش شناسايي حساس به سطح است. از مزاياي اين روش، حساسيت بالا و سرعت قابل قبول آن براي شناسايي شيميايي مواد در فاصله 5 تا 50 آنگسترم از نزديك سطح جامد است.                      

کاربردهای کلی

  • آنالیز ترکیبی منطقه ۵ تا ۳ نانومتر نزدیک سطح برای تمام عناصر به‌جز هیدروژن و هلیم
  • رسم منحنی عمق – ترکیب و آنالیز فیلم نازک
  • آنالیز شیمیایی تجزیه جانبی بالای سطح و مطالعات ناهمگون برای تعیین متغیرهای ترکیبی در محدوده بزرگ تراز ۱۰۰ نانومتر
  • آنالیز مرزدانه و دیگر سطوح مشترک به وجود آمده شده به وسیله ترک
  • تشخیص فازها در مقاطع میانی

مثال‌هایی از کاربرد

  • آنالیز عدم خلوص سطوح مواد برای تضمین کارکرد آن در خواصی مثل خوردگی، فرسودن، تحریک ثانوی الکترون و تجزیه
  • تشخیص محصولات واکنش شیمیایی برای مثال در اکسایش و خوردگی
  • ارزیابی ترکیبی در عمق فیلم‌های سطحی، پوشش، و فیلم‌های نازک به کار رفته برای تغییر و تبدیل مختلف سطوح متالوژیکی و کاربرد میکروالکترونیک
  • آنالیز شیمیایی مرزدانه برای ارزیابی نقش رسوب مرزدانه‌ای و تفکیک محلول روی خواص مکانیکی، خوردگی و خوردگی تنشی

نمونه‌ها

  • جامدات،(فلزها، سرامیک‌ها و مواد آبی) با فشار بخارهای نسبتاً پایین (کمتر از ‎ ۱۰ تور در دمای اتاق). مواد با فشار بخار بالا می‌توانند با خنک کردن نمونه استفاده شوند . به طور مشابه، بسیاری از نمونه‌های مایع می‌توانند به وسیله خنک کردن یا به وسیله به کار بردن یک فیلم نازک در داخل یک پایه رسانا استفاده شوند.
  • اندازه : ذرات پودری شکل تنها به قطر یک میکرومتر می‌توانند آنالیز شوند. بیشینه اندازه نمونه وابسته به بکار رفته‌است.
  • توپوگرافی سطح : سطوح مسطح مرجح هستند، اما سطوح ناهموار می‌توانند در مناطق کوچک انتخابی (تقریباً ۱ میکرومتر) آنالیز شوند یا در مناطق وسیع ۰٫۵mm) قطر ) میانگین‌گیری شوند.
  • آماده‌سازی: نمونه‌ها باید عاری از اثر انگشت، روغن و سایر مواد فشار بخار بالا باشند.

محدودیت‌ها

  • غیر حساس به هیدروژن و هلیم .
  • آسیب پرتو الکترون می‌تواند تست غیرمخرب مواد آلی و زیستی و گاه مواد سرامیکی را محدود کند.
  • بار اکتریکی پرتو الکترونی ممکن است آنالیز مواد تجزیه‌شونده را محدود کند.
  • حساسیت ردیابی کمی برای بیشتر عناصر از ۰٫۱ تا ۱ درصد اتمی است.

زمان تقریبی آنالیز

معمولاً زیر ۵ دقیقه برای بررسی کامل از ۰ تا ۲۰۰۰ الکترون ولت کافی است.

  • آنالیزهای نقطهٔ اوج انتخابی برای مطالعه تأثیرات شیمیایی، حدس عامل اوژه و نمایش عموماً طولانی‌تر است.

                                                   




تاریخ: 27 ارديبهشت 1391برچسب:طیف سنجی الکترون اوژه,
ارسال توسط

صفحه قبل 1 2 3 4 5 ... 22 صفحه بعد

آرشیو مطالب
پيوند هاي روزانه
امکانات جانبی

ورود اعضا:


نام :
وب :
پیام :
2+2=:
(Refresh)

خبرنامه وب سایت:





آمار وب سایت:  

بازدید امروز : 1
بازدید دیروز : 32
بازدید هفته : 33
بازدید ماه : 250
بازدید کل : 13572
تعداد مطالب : 220
تعداد نظرات : 46
تعداد آنلاین : 1



کد شمارش معکوس سال نو